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波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀靈活性強(qiáng)，可分析從F到U的固體，液體和粉末，在真空或充氦環(huán)境。標(biāo)準(zhǔn)配置12位自動(dòng)進(jìn)樣器，自動(dòng)操作。作為ZSX系列理學(xué)臺(tái)式波長(zhǎng)色散X射線熒光系統(tǒng)中的成員，Supermini配置了可以與其他成員共用的所有軟件。數(shù)據(jù)處理功能強(qiáng)大且簡(jiǎn)單，使用理學(xué)標(biāo)志的流程條界面進(jìn)行定性和定量分析。

X射線熒光光譜儀具有創(chuàng)新的光學(xué)上述配置。由于樣品室的維護(hù)，再也不用擔(dān)心被污染的光束路徑或停機(jī)時(shí)間。光學(xué)元件以上的幾何結(jié)構(gòu)消除了清潔問題并延長(zhǎng)了使用時(shí)間。ZSX Primus IV WDXRF光譜儀具有的性能和分析最復(fù)雜樣品的靈活性，采用30微米的管子，這是業(yè)界最薄的終端窗口管，可提供出色的輕元素（低Z）檢測(cè)限。

德國(guó)斯派克便攜式能量色散X射線光譜儀：COUT集和了SPECTROS MIDEX及優(yōu)秀的手持式分析儀SPECTROS xSORT之大成，使SPECTROS COUT能在現(xiàn)場(chǎng)提供正式實(shí)驗(yàn)室級(jí)別的數(shù)據(jù)。

德國(guó)斯派克偏振能量色散在工業(yè)過程控制分析中，分析儀器的靈敏度、精度及分析速度是至關(guān)重要的。SPECTRO iQ 在這一領(lǐng)域已建立了相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)。

SPECTRO 偏振能量色散X射線熒光光譜儀擴(kuò)展偏振光學(xué)系統(tǒng)使用50W低能量的X射線管作為輻射源，用于Na-U元素的同時(shí)分析。從X射線管中發(fā)出的原始X射線通過高通量偏振光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行轉(zhuǎn)換，得到的偏振且部分單色的X射線可以高靈敏。

40 多年來，Rigaku Simultix 同步波長(zhǎng)色散 X 射線熒光 (WDXRF) 光譜儀系統(tǒng)已被廣泛用作需要高吞吐量和精度的行業(yè)（例如鋼鐵和水泥）過程控制的元素分析工具。近 1,000 臺(tái) Simultix 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀已交付給全球客戶。隨著這些年的技術(shù)進(jìn)步，客戶的要求也變得*和多樣化。Simultix 15 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀專為滿足這些不斷變化的需求而開發(fā)

華普通用波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀 ZSX Primus具有卓yue的性能和靈活性，能夠分析最復(fù)雜的樣品，它具有30微米的管子，這是業(yè)內(nèi)較薄的終端窗口管，用于檢測(cè)極低的光譜元素（低Z）。結(jié)合zui先jin的測(cè)試包檢測(cè)均勻性和包涵體，ZSX Primus可輕松對(duì)樣品進(jìn)行詳細(xì)調(diào)查，以提供其他分析方法不易獲得的分析見解。可用的多點(diǎn)分析還有助于消除不均勻材料中的采樣誤差。

日本理學(xué)波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀 ZSX Primus具有卓yue的性能和靈活性，能夠分析最復(fù)雜的樣品，它具有30微米的管子，這是業(yè)內(nèi)較薄的終端窗口管，用于檢測(cè)極低的光譜元素（低Z）。結(jié)合zui先jin的測(cè)試包檢測(cè)均勻性和包涵體，ZSX Primus可輕松對(duì)樣品進(jìn)行詳細(xì)調(diào)查，以提供其他分析方法不易獲得的分析見解。可用的多點(diǎn)分析還有助于消除不均勻材料中的采樣誤差。